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痕量氣體分析儀高測量選擇性

更新時間:2022-02-28       點(diǎn)擊次數(shù):816
   痕量氣體分析儀可以同時測量大氣環(huán)境或者工業(yè)流程中的HCl、HF和水汽濃度,高精度、高靈敏度。分析儀可以提供秒級的測量速度,同時精度達(dá)到ppb級。測試結(jié)果表明,分析儀不受其他氣體種類和氣壓的干擾。
  本系統(tǒng)設(shè)計(jì)為在線連續(xù)監(jiān)測,氣流從采樣點(diǎn)通過管路進(jìn)入儀器,沒有任何人為的間斷,氣流量從0.5至2升/分鐘。基于DSP[數(shù)字信號處理器]的電子裝置控制本系統(tǒng),連續(xù)顯示氣體濃度,并提供更快的響應(yīng)時間(大約3秒鐘),結(jié)果直接顯示于計(jì)算機(jī)界面,能夠在線連續(xù)重復(fù)測量。
  光腔衰蕩光譜技術(shù)(CRDS)通過測量時間而不是強(qiáng)度的變化來確定光學(xué)吸收。光源發(fā)出的脈沖激光進(jìn)入光腔并且由高反射率的鏡面形成的光程高達(dá)100km的多次反射中,每次都有少量的光透過鏡面而離開光腔,這部分光就構(gòu)成了光衰蕩信號,它的強(qiáng)度變化可簡單地用單指數(shù)衰減來描述。光強(qiáng)度以指數(shù)級迅速衰減直至為零,這種衰減被光電感應(yīng)器實(shí)時記錄,此時空光腔的衰蕩時間僅由鏡子的反射率決定。當(dāng)光腔中有氣體存在時,氣體分子對激光的吸收必將改變光腔衰蕩時間,并且其濃度與衰蕩時間的倒數(shù)(也即衰蕩速度)密切相關(guān)。T-I MAX系列連續(xù)排放污染物(CEMs)痕量氣體分析儀可連續(xù)自動測量和計(jì)算比較空光腔與充有待測氣體的光腔的衰蕩時間差,繼而得出待測目標(biāo)氣體的濃度。
  痕量氣體分析儀采用LGR設(shè)計(jì)的離軸積分腔輸出光譜(OA-ICOS)技術(shù),它消除了CRDS技術(shù)在測量期間需要連續(xù)進(jìn)行光腔與激光波長匹配以改善信號強(qiáng)度微弱的缺點(diǎn),使得分析儀不再需要進(jìn)行復(fù)雜的激光準(zhǔn)直調(diào)整、溫度控制和波長監(jiān)控??梢詫?shí)時顯示高分辨率激光吸收光譜。采用內(nèi)置計(jì)算機(jī)(Linux OS)以提供數(shù)據(jù)的連續(xù)存儲和測量。具有遠(yuǎn)程控制功能,用戶可以通過網(wǎng)絡(luò)在任意地點(diǎn)對分析儀進(jìn)行操作,也可以通過遠(yuǎn)程登錄實(shí)時共享數(shù)據(jù),并進(jìn)行儀器診斷。
  特點(diǎn)
  *歸功于低檢出限的早期氨氣監(jiān)測—低至ppb的零頭。
  *不用手動操作,連續(xù)實(shí)時測量。
  *高選擇性—排除其他氣體的干擾。
  *免維護(hù)和免校正操作,GX節(jié)約人力消耗。
  *長時限穩(wěn)定性—*的偏差補(bǔ)償。
  *友好的用戶圖形界面簡化系統(tǒng)操作。
  *無需化學(xué)或放射性原料,減少所有者的開銷。
  高測量選擇性,因而可以完成完整而清晰的氣體鑒定。通過一個鐳射源(單一光譜線)選擇待測氣體的對應(yīng)吸收譜線,選擇鐳射波長可以避免影響測量值的其他常見組分的干擾。被激烈的文件自動存入一個文件,允許無人管理的測量,歷史數(shù)據(jù)可從磁盤中的分析數(shù)據(jù)很容易地通過遠(yuǎn)程恢復(fù)。事件,諸如運(yùn)行起止時間,警報,系統(tǒng)信息,設(shè)置更改等存入一個記錄文件。
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